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ERICHSEN233干膜測厚儀
應(yīng)用
在所有平面上
測試原理
涂層上表面和暴露基材區(qū)域間的高度差（D） 通過表盤下自由移動的插針(1)測量，兩個支腳(2) 置于涂層表面
設(shè)計和功能
表盤儀器密閉在一鍍鉻的金屬殼中。支腳從 儀器底部伸出，插針有保護套。保護套一側(cè)的槽 用于調(diào)節(jié)插針，插針通過一塊玻璃板的平面調(diào)節(jié)， 此配件包括在供貨范圍中。帶附件的表盤裝在一 個盒子中。
測量程序
1) 設(shè)置 2) 測量點準(zhǔn)備 3) 測量 在所有平面上
涂層上表面和暴露基材區(qū)域間的高度差（D） 通過表盤下自由移動的插針(1)測量，兩個支腳(2) 置于涂層表面（圖1）。
表盤儀器密閉在一鍍鉻的金屬殼中。支腳從 儀器底部伸出，插針有保護套。保護套一側(cè)的槽 用于調(diào)節(jié)插針，插針通過一塊玻璃板的平面調(diào)節(jié)， 此配件包括在供貨范圍中。帶附件的表盤裝在一 個盒子中。
取下保護罩，將儀器垂直放在玻璃板平面上，如果指針讀數(shù)不為零，可以通過保護套中的槽調(diào) 節(jié)，直至指針達到零位，。
在測量點處，涂層需被小心刮開一個3mm的區(qū)域，直至達到基材。
將儀器放在測量區(qū)域上，使插針接觸到裸露基材，干膜厚度能直接讀出，單位m。
如果是柔軟涂層，可在支腳下墊一塊剃刀。
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